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高耐热尺寸稳定性聚酰亚胺薄膜 [复制链接]

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关键词:聚酰亚胺;薄膜;炔基二酐;苯并咪唑二胺;化学交联;氢键作用;高耐热;尺寸稳定性

聚酰亚胺(PI)因其优异的综合性能,是柔性显示器件聚合物基板材料的最佳选择。然而,传统PI薄膜的耐热性与尺寸热稳定性无法满足苛刻的应用要求,如何大幅度提升PI薄膜的耐热性和尺寸热稳定性,以更好地满足耐高温超低膨胀基板材料的应用要求,是目前该领域面临的挑战。

近期,研究人员通过共聚向含苯并咪唑结构的PI主链中引入炔基结构,通过热引发化学交联反应构建化学限域位点,以此抑制高温下氢键的减弱和解离,通过交联和高温下更加稳定的氢键协同性,进而提高PI薄膜在高温下的尺寸稳定性。

研究人员采用乙炔基双苯酐(EBPA)、联苯二酐(BPDA)与苯并咪唑二胺(PABZ),通过热酰亚胺化法及高温退火处理制备了不同炔基含量的系列PI薄膜,EBPA含量分别为0%、4%、8%、14%和20%。

研究发现,相对于线性结构的PI薄膜,所制备交联结构的PI薄膜在℃的强氢键含量达到26.1%,与未交联薄膜体系相比提高了近50%。

受益于高温下的强氢键作用含量的提高,以及化学交联作用的存在,所制备交联结构PI薄膜表现出优异的耐热性能和超低热膨胀系数(CTE)。随着交联程度的提高,PI薄膜的玻璃化转变温度(Tg)由℃逐渐提升至℃左右。

系列交联结构薄膜在高温~℃范围的CTE值显著下降,从33.8ppm/K降低至5.1ppm/K;40~°C宽温度范围内的面内CTE也有所降低,仅为2.1ppm/K。此外,交联结构PI薄膜的拉伸强度和模量呈增大趋势,拉伸强度可高达MPa。

与不含氢键相互作用的苯并噁唑体系PI薄膜对比发现,在高温阶段的交联反应抑制了PI薄膜中氢键的减弱和解离,使氢键相互作用在高温下稳定性增加,强氢键含量显著增加。交联本身以及交联限域效应带来的氢键相互作用稳定性,协同提高了PI薄膜的尺寸热稳定性。该方法制备的高耐热及高尺寸稳定性PI薄膜有望应用于AMOLED的耐高温基底材料。

研究成果发表在国际学术期刊高分子学报(,PublishedOnline),第一作者和通讯作者分别是四川大学的L.B.Luo和X.Y.Liu。

聚酰亚胺科技?原创,阅读原文

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